An IPCW estimator for ordered failure times subject to a common censoring process
C. Serrat
TIPO DE PARTICIPACIÓN: Contributed paper
CONGRESO: XXIIIrd International Biometric Conference
PUBLICACIÓN: Abstract in proceedings p. 842
LUGAR DE CELEBRACIÓN: McGill University. Montreal, Canada
FECHA: 16-21 Julio 2006
CONGRESO: XXIIIrd International Biometric Conference
PUBLICACIÓN: Abstract in proceedings p. 842
LUGAR DE CELEBRACIÓN: McGill University. Montreal, Canada
FECHA: 16-21 Julio 2006