Skip to content

Grouped Stratified Kaplan-Meier Estimator for Missing Covariates

C. Serrat y G. Gómez
TIPO DE PARTICIPACIÓN: Contributed paper
CONGRESO: The XXth International Biometric Conference (Reunión Bianual de la International Biometric Society)
PUBLICACIÓN: Proceedings Volume I, pp: 94. ISSN: 1606-8653. Impreso en USA
LUGAR DE CELEBRACIÓN: Berkeley, CA, USA
FECHA: 1-7 Julio 2000
Filed under: ,